不過STE很常見，尤其是對(duì)特定程序如模塊測(cè)試，但也應(yīng)該仔細(xì)研究ATE帶來(lái)的其它方案，尤其是那些具有開放架構(gòu)優(yōu)點(diǎn)可能改變這一趨勢(shì)的系統(tǒng)，內(nèi)部測(cè)試資源更應(yīng)該專用于生成測(cè)試方案，和設(shè)計(jì)專門測(cè)試平臺(tái)相比這些資源具有更為獨(dú)特的技能與知識(shí)。

　　自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)　　通用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(GPATE，或簡(jiǎn)稱為ATE)是一種非常先進(jìn)靈活的方案，可以滿足多種產(chǎn)品與程序測(cè)試要求，從最初出現(xiàn)迄今已有三十多年歷史。當(dāng)微型計(jì)算機(jī)控制的儀器出現(xiàn)以后，ATE的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為直接針對(duì)測(cè)試需要，系統(tǒng)集成、信號(hào)連通靈活性、增值軟硬件、面向測(cè)試的語(yǔ)言、圖形用戶界面等是ATE，比如SEICA的VALIDS40功能測(cè)試平臺(tái)，和STE之間的主要區(qū)別。

　　泰瑞達(dá)公司創(chuàng)始人Alexd’Arbeloff在2002年10月國(guó)際測(cè)試大會(huì)的主題演講中，對(duì)廣泛采用開放架構(gòu)趨勢(shì)提出批評(píng)，認(rèn)為它只是簡(jiǎn)單將不同模塊加在一起然后用于所有測(cè)試提供商的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)架上。他說：“這種方法對(duì)ATE業(yè)界沒有什么好處，測(cè)試設(shè)備用戶所得到的只是來(lái)自于ATE供應(yīng)商提供的系統(tǒng)集成，否則用戶就得自己做或者要另外付費(fèi)。”實(shí)際上，基于專用技術(shù)硬軟件架構(gòu)同時(shí)也通過向第三方儀器供應(yīng)商與標(biāo)準(zhǔn)開放，這種滿足開放架構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)將很可能成為廠商最佳選擇。

　　讓我們仔細(xì)看一看現(xiàn)代ATE的架構(gòu)并探討其優(yōu)點(diǎn)。

　　FCT測(cè)試架ATE是一種商用系統(tǒng)，有很多公司都提供這類設(shè)備，雖然它和普通設(shè)備如在線測(cè)試儀或MDA不一樣。功能測(cè)試更為復(fù)雜，需要有實(shí)力的供應(yīng)商的經(jīng)驗(yàn)和認(rèn)真投入?？梢栽谑袌?chǎng)上購(gòu)買(有時(shí)又稱為COTS)有很多優(yōu)點(diǎn)，它使ATE能充分利用供應(yīng)商多年的經(jīng)驗(yàn)以及NRE投資，這對(duì)于ATE供應(yīng)商提供創(chuàng)新新技術(shù)同時(shí)又保持現(xiàn)有特性特別有意義。它對(duì)軍事/航空產(chǎn)品非常重要，因?yàn)檫@類產(chǎn)品具有較長(zhǎng)生命周期，且有很多新舊產(chǎn)品并存同時(shí)都要不斷進(jìn)行測(cè)試，比如ATE經(jīng)過改進(jìn)可以為低電平器件進(jìn)行可重復(fù)測(cè)試，但同時(shí)舊的CMOS電平測(cè)試仍然需要提供。另一個(gè)例子與用于診斷的指引探測(cè)技術(shù)有關(guān)，該技術(shù)幾乎不能用于某些新封裝技術(shù)，但你是否會(huì)買一個(gè)不帶這種功能的測(cè)試儀呢？